13/08/2026Veri Anla Bu araştırma, yarıiletkenlerde elektron veya delikleri yakalayarak elektriksel taşınımı ve yeniden birleşmeyi etkileyen elektronik tuzak durumlarını, ek bir p-n veya Schottky bağlantısı oluşturmadan karakterize etmek için taşıyıcı ve tuzak çözünürlüklü foto-Hall (carrier- and trap-resolved photo-Hall, CTRPH) yöntemini geliştirmektedir. Daha fazla gör
Your experience on this site will be improved by allowing cookies Cookie Policy
Bu çerezler web sitesinin düzgün çalışması için gereklidir.
Bu çerezler, ziyaretçilerin web sitesiyle nasıl etkileşim kurduğunu anlamamıza yardımcı olur.
Bu çerezler kişiselleştirilmiş reklamları sunmak için kullanılır.
