18/08/2026Veri Anla Taelim Lee na wenzake walichunguza kwa majaribio jinsi kuunda gradient iliyodhibitiwa ya mkusanyiko wa alumini katika HfO₂-based metal–insulator–metal (MIM) capacitors, badala ya kuisambaza kwa usawa katika filamu yote, kunavyobadilisha dielectric performance. Tazama zaidi
Your experience on this site will be improved by allowing cookies Cookie Policy
Bu çerezler web sitesinin düzgün çalışması için gereklidir.
Bu çerezler, ziyaretçilerin web sitesiyle nasıl etkileşim kurduğunu anlamamıza yardımcı olur.
Bu çerezler kişiselleştirilmiş reklamları sunmak için kullanılır.