18/08/2026Veri Anla Taelim Lee və həmkarları HfO₂ əsaslı metal–izolyator–metal (MIM) kondensatorlarda alüminiumun film boyunca homogen paylanması əvəzinə idarə olunan konsentrasiya qradiyenti yaradılmasının dielektrik performansı necə dəyişdirdiyini eksperimental olaraq araşdırdılar. Daha çox baxın
Your experience on this site will be improved by allowing cookies Cookie Policy
Bu çerezler web sitesinin düzgün çalışması için gereklidir.
Bu çerezler, ziyaretçilerin web sitesiyle nasıl etkileşim kurduğunu anlamamıza yardımcı olur.
Bu çerezler kişiselleştirilmiş reklamları sunmak için kullanılır.
